硬性羅氏線圈RS-28-150KA帶寬2MHz，適用于慢/快速變化測試信號，可與本公司HF10精密陣列衰減器擴展配合使用，拓寬羅氏線圈倍率，HF10也可與各式示波器探頭配合使用。RS系列羅氏線圈，適用頻帶廣泛，所采樣波形不畸變，適合未知源的采樣和還原；盲測。與國外線圈每一個型號只能測試一種波形相比，RS系列的性價比更高，采樣的雷電波不受波形多變的影響，可信度更高
發(fā)布日期：2024-01-02
一、硬性羅氏線圈RS-28-150KA帶寬2MHz產(chǎn)品概述
優(yōu)測羅氏線圈RS-28-150KA具有高性價比、頻帶廣泛、不失真不變形的特點，可與各式示波器配合使用，也可與本公司HF10精密陣列衰減器擴展配合使用，拓寬羅氏線圈倍率。
二、硬性羅氏線圈RS-28-150KA帶寬2MHz技術(shù)參數(shù)
| 靈敏度(V/A) | 0.001(1:1000) |
| 脈沖電流 | 150kA (8/20μs)&15kA (10/350μs) |
| 有效值電流低至 | 1kA |
| 安秒積(A•s) | 8 |
| 低頻截止點(3dB) | 10Hz |
| 高頻截止點(3dB) | 2MHz |
| 使用溫度 | 0-65℃ |
| 重量(kg) | 0.75 |
| 接口 | BNC |
| 孔徑 | 28mm |
三、設(shè)備連接
1.將被測導(dǎo)線穿入羅氏線圈中心孔。
2.連接阻抗匹配器，也可不裝，不影響測試結(jié)果。
3.將BNC測試線將線圈與示波器連接一體。
四、產(chǎn)品應(yīng)用
SiC MOSFET 的浪涌可靠性測試研究：浪涌可靠性是器件可靠性指標(biāo)的一種，是指MOSFET承受浪涌電流的能力。浪涌電流是指電源接通瞬間或是在電路出現(xiàn)異常情況下產(chǎn)生的遠大于穩(wěn)態(tài)電流的峰值電流或過載電流。
由于電容電感等非線性器件的充放電，很多電子電路在工作中會產(chǎn)生浪涌電流，尤其是在電路開啟的瞬間，而浪涌電流會對器件本身造成損傷，最終影響電路的正常工作，因此用戶在進行電路設(shè)計選擇器件之前，需要知道器件可承受的浪涌電流峰值，并依此設(shè)計電路參數(shù)使器件盡可能工作在安全區(qū)域。
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