近場探頭套件EM5030主要用于電子產(chǎn)品的電磁場測量，實(shí)現(xiàn)干擾源快速位，多種形狀的探頭，寬頻率范圍，可以完成多種的電磁場測試任務(wù)。配套使用的放大器，增益約20dB，可提高系統(tǒng)測試靈敏度！
發(fā)布日期：2023-12-30
近場探頭EM5030
近場探頭EM5030主要用于電子產(chǎn)品的電磁場測量，實(shí)現(xiàn)干擾源快速位，多種形狀的探頭，寬頻率范圍，可以完成多種的電磁場測試任務(wù)。配套使用的放大器，增益約20dB，可提高系統(tǒng)測試靈敏度！廣泛應(yīng)用于檢測器件或者是表面的磁場方向及強(qiáng)度；機(jī)箱、線纜、PCB模塊等磁場泄露情況；甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線，從而判斷干擾產(chǎn)生的原因，提高產(chǎn)品設(shè)計(jì)水平，縮短產(chǎn)品開發(fā)周期。
近場探頭通過移動探頭可檢測磁場方向和分布，找出干擾源，提高EMC整改效率。具有寬頻率范圍，多種探頭，可以滿足多種電磁場測試任務(wù)，其中的無源探頭可匹配頻譜儀/接收機(jī)示波器50Ω輸入端被，方便檢查磁場或電流變化。近場探頭使用方便，安裝快捷，定位干擾源。
【近場探頭產(chǎn)品規(guī)格】
【 前置放大器規(guī)格】
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