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高壓下的mA小電流測試方案
  • 發(fā)布日期:2024-07-09      瀏覽次數(shù):305
    • 一、測試背景

             高壓源通常用于驅動電視機、顯示器、光纖通信設備、半導體生產設備,為放大器、激光器、閃光燈、雷達、高頻發(fā)射器、X線設備、核磁共振設備、醫(yī)用激光器、傳輸電子顯微鏡等提供高功率。高壓源可以輸出直流電壓或交流電壓,它的主要作用是將低電位轉化為高電位,以滿足高電壓需求,其輸出電壓從數(shù)百伏到數(shù)千伏不等,輸出電流從毫安級到千安級。對于毫安級電流測試來說,常規(guī)的電流探頭無法在高壓環(huán)境下測試,柔性電流探頭無法分辨毫安級電流變化。

      DSP系列直流電源.png

      二、高分辨率示波器

             當高速ADC進行數(shù)據(jù)采集時,由于噪聲和失真的影響,實際ADC的信噪失真比達不到其標稱位數(shù)應達到的理想性能。一般情況下,示波器帶寬越高,其內部噪聲就越高。因為高頻噪聲會進入高帶寬示波器內。由于ADC僅為示波器系統(tǒng)的一部分,不能獨立使用,因此整個示波器系統(tǒng)的ENOB指標會更有意義。高分辨率示波器ENOB高達8.4-bit,而12-bit示波器高達8.3~8.6-bit,時間誤差、頻率雜散都比較小,同時寬帶噪聲也比較低,能夠有效保證測量的準確度。

      SDS6000 Pro主圖2.png

      三、皮爾森羅氏線圈

             羅氏線圈以其高速的上升沿響應能力,積分電路的信號小縮能力,對高速大電路測試有著能力。寬頻剛性羅氏線圈適用于慢/快速變化測試信號,帶寬可至MHz,可定制羅氏線圈倍率為1:1,測量毫安級電流信號;同時耐壓值遠高于傳統(tǒng)的電流探頭(做好絕緣耐壓保護)。

      7450-200X165.jpg

      四、測試方法

             示波器垂直檔位調為500uV每格,帶寬限制為20MHz以內,也可以用濾波功能,去除高頻噪聲,通道設置為1V/A,單位選擇A。被測線纜穿過羅氏線圈中間的孔,盡量不要直接接觸。當測試信號高于40A時,應當使用高倍率的羅氏線圈型號,防止燒壞示波器。啟動測試前,觸發(fā)電平設置為800uV,然后啟動被測物。


      五、與接觸式測試方案的區(qū)別

      (1)耐高壓。

      (2)對被測物影響小。

      (3)測試方便。


      六、注意事項

      (1)測試前需提供具體的電流值、帶寬要求、電流上升時間或者下降時間、被測物線徑,如果是內置到電源內部測試,需要考慮體積。

      (2)需要長時間測試并且測試的信號變化幅度大,可以配一個限幅器,防止燒壞示波器

      (3)測試時,工程師應遠離被測物、羅氏線圈,同時戴絕緣手套,保護自身安全。

      (4)增加電源濾波器給示波器供電可以消除部分環(huán)境噪音。

      (5)條件允許的話,用上位機軟件控制示波器測量具體參數(shù),更安全。


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