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EMI近場(chǎng)探頭測(cè)試及應(yīng)用
  • 發(fā)布日期：2019-09-10      瀏覽次數(shù)：2091

      • EMI近場(chǎng)探頭測(cè)試及應(yīng)用

       

      一、EMI 電磁預(yù)兼容測(cè)試

      電磁兼容的常見術(shù)語
      
      –EMC(ElectroMagneticCompatibility) 電磁兼容
      –EMI(ElectroMagneticInterference) 電磁干擾
      –EMS(ElectroMagneticSusceptibility) 電磁抗擾
      –CISPR 無線電子干擾標(biāo)準(zhǔn)化特別委員會(huì)

      地區(qū)認(rèn)證機(jī)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)
      IECCISPRCISPRPub.xx
      歐盟CENELECEN550xx
      美國(guó)FCC,DoDFCCPartxx
      日本VCCIJ550xx
      中國(guó)大陸CCC,MoDGBxxxx-xxxx


      二、電磁兼容測(cè)試

      很多客戶在產(chǎn)品研發(fā)完成后才交付EMI 實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行電磁兼容測(cè)試 

       

       

      三、EMI 電磁預(yù)兼容測(cè)試的重要性

      我們推薦所有的電子類產(chǎn)品都進(jìn)行EMI 預(yù)兼容測(cè)試

      EMI 預(yù)兼容測(cè)試: 在早的時(shí)間發(fā)現(xiàn)和解決電磁干擾的問題，不僅僅是通過/失敗測(cè)試，還需要EMI 故障排查，終解決問題。

       

      四、EMI 傳導(dǎo)測(cè)試和輻射測(cè)試

      傳導(dǎo)測(cè)試 

      EUT+人工電源網(wǎng)絡(luò)+限幅器+EMI接收機(jī)

       

       輻射測(cè)試

      EUT+天線+EMI測(cè)試儀表 

       

      五、輻射測(cè)試環(huán)境的搭建

      預(yù)測(cè)試目標(biāo)：通過旋轉(zhuǎn)被測(cè)件，改變天線的高度和計(jì)劃方向，找到被測(cè)件的輻射大值

       六、一些常見的EMI 測(cè)試附件


      對(duì)數(shù)周期天線: 200 to 1000MHz

      雙錐天線： 30 to 300 MHz

      近場(chǎng)探頭

      牛角天線18 GHz

      人工電源網(wǎng)絡(luò)/線性阻抗模擬網(wǎng)絡(luò) 

       

      七、傳導(dǎo)/輻射測(cè)試對(duì)儀表的要求 

       

       

      八、準(zhǔn)峰值檢波器和正峰值檢波器的區(qū)別

       

       

      九、是德N9322C: 6 合1 頻譜分析儀

       

      9 kHz –7 GHz


      頻譜分析

      天線/線纜測(cè)試

      干擾分析


       

      解調(diào)分析



      功率計(jì)

      EMI測(cè)試

       

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